Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux d'Orsay

Diffractomètre des Rayons X en incidence rasante



    Contact :

Jérémy Forté

Bât. : 410

Tél. : 01 69 15 31 88

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Renseignements obtenus :

Caractérisation structurale d’échantillons massifs ou de films minces à température ambiante ou en température selon différents modes d’analyse :
- configuration θ/2θ ou incidence rasante : analyse de phases, structure cristalline ;
- réflectométrie sur film (rugosité, densité, épaisseur) ;
- détermination de contraintes résiduelles (méthode sin2j) ;
- analyse de la texture cristallographique.

Principe :

La diffractométrie de rayons X est une technique d’analyse basée sur la diffraction des rayons X par la matière. La méthode générale consiste à bombarder l’échantillon avec des rayons X, et à analyser l’intensité des rayons X qui est diffusée selon l’orientation dans l’espace. Les rayons X diffusés interfèrent entre eux, l’intensité présente donc des maxima dans certaines directions, on parle de phénomène de « diffraction ». On enregistre alors l’intensité détectée en fonction de l’angle de déviation 2θ du faisceau.
 
Matériaux :

Matériaux cristallisés polycristallins (massifs ou en poudres) ou monocristallins ; Couches minces

Utilisation : Le diffractomètre de rayons X peut être en libre service sous condition d'habilitation. Il nécessite néanmoins une réservation préalable. Si vous possédez un compte de réservation pour l'utilisation de l'appareil, cliquer ici. Sinon, contactez le responsable de l'appareil."

Caractéristiques de l’appareil : Diffractomètre X'Pert PRO MRD de PANalytical (Phillips)

-Tube émetteur de Rayons X  à anticathode de Cuivre ou de Chrome
-Berceau d’Euler : goniomètre à 4 cercles
-Possibilité de monter une platine chauffante permettant de faire varier la température de 300 K à 1173 K.
-Choix entre trois optiques : -un miroir pour l’analyse de phases et l’analyse en incidence rasante ;
                                        -une lentille polycapillaire pour l’analyse des contraintes et des textures ;
                                        -un mono-capillaire pour l’analyse par micro-diffraction RX.
-Détecteur rapide X’celerator ou détecteur proportionnel à gaz (Xenon)
-Monochromateur arrière en graphite (avec détecteur proportionnel) permettant l’atténuation de la fluorescence X
-Logiciel d’identification de phases (X’pert HighScore), logiciel d’analyse des données de réflectométrie (X’pert Reflectivity), logiciel d’analyse des contraintes résiduelles (X’pert Stress), logiciel d’analyse de la texture (LaboTex 3.0), logiciel d’affinement de structure par la méthode de Rietveld (FullProf).